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18964293912產品介紹
單通道紫外輻照計:我廠紫外輻照計執(zhí)行企業(yè)標準Q/HDSDY0003-2014。UV-A型紫外輻照計采用SMT貼片技術,選用高精度低功耗數字芯片,儀器外殼為流線型設計,探測器經過嚴格的光譜及角度特性校正,性能穩(wěn)定,適用性強。適用于光化學、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。
單通道紫外輻照計產品特點光譜:
項目 | 參數 | 備注 |
波長范圍λ1,峰值波長λp | (320~400)nm,λP=365nm | 用戶二選一 |
波長范圍λ2,峰值波長λp | (375~475)nm,λP=420nm | |
輻照度測量范圍 | (0.1~199.9×103) μW/cm2 | |
長波響應誤差 | <15% | |
相對示值誤差 | ±8%(相對于NIM標準) | |
余弦特性(方向性響應)誤差 | 10% | |
線性誤差 | ±1% | |
換檔誤差 | ±1% | |
短期不穩(wěn)定性 | ±1%(開機30min后) | |
疲勞特性 | 衰減量<2% | |
零值誤差 | 滿量程的±1% | |
響應時間 | <1秒 | |
使用環(huán)境 | 溫度(0~40)℃;濕度<85%RH | |
尺寸和重量 | 160mm×78mm×43mm;0.2kg | |
電源 | 6F22型9V積層電池(非充電電池) | |
整機功耗 | <0.1VA |
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